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| 研究生： |
柯俊男 Jiun-Nan Ko |
|---|---|
| 論文名稱： |
快閃式記憶體之故障模型及測試策略/內嵌式測試電路 Fault Modeling and Testing/On-Chip Test Circuit of Flash Memories |
| 指導教授： |
張慶元
Tsin-Yuan Chang |
| 口試委員: | |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 電機工程學系 Department of Electrical Engineering |
| 畢業學年度： | 87 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 75 |
| 相關次數： | 點閱：2 下載：0 |
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